一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置
公开
摘要
一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置，测量方法基于扣除杂散辐射测量原理推导和工程应用相结合，保证了测量方法的可行性；装置包括光学头部，光学头部包括反射镜组件、分光系统、光学系统和热电堆探测器，分光系统、光学系统和热电堆探测器依次沿光路设置，反射镜组件移动设置在分光系统远离光学系统的一侧，反射镜组件包括镜面朝向热电堆探测器的镀金反射镜和温度传感器，镀金反射镜在遮挡光路和离开光路两个状态间切换。本发明保证高精度的辐射测量；快速切换两种测量状态；拓展了装置的适用性；在不改变像的视场角的前提下，有效防止渐晕现象，且保证了入射辐射能量均匀性；有效实现数据的采集、存储和处理等。
基本信息
专利标题 ：
一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593822A
申请号 ：
CN202111255200.8
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2021-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张允祥李新张艳娜韦玮潘琰
申请人 ：
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 ：
安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号光学遥感中心
代理机构 ：
杭州杭诚专利事务所有限公司
代理人 ：
郑汝珍
优先权 ：
CN202111255200.8
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/02 G01J5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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