辐射杂散测试装置和电子设备
授权
摘要

本实用新型提供了一种辐射杂散测试装置和电子设备,涉及测试技术领域。该辐射杂散测试装置包括电子设备和辅助滤波单元,电子设备包括多个测试电路、切换单元和多个测试天线,多个测试电路与多个测试天线一一对应。当多个测试电路中的第一测试电路通过切换单元与辅助滤波单元的输入端电连接,辅助滤波单元的输出端与第一测试电路对应的第一测试天线点连接上时,第一测试电路、切换单元、辅助滤波单元和第一测试天线组成第一测试通路;利用测试仪对第一测试通路进行辐射杂散测量,得到第一测试结果;根据第一测试结果判断辐射杂散来源。通过增加滤波单元就能实现辐射杂散的测试,在开发调试时,避免了其它设备带来的干扰,也节约了调试成本。

基本信息
专利标题 :
辐射杂散测试装置和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021310149.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-06
授权号 :
CN212723133U
授权日 :
2021-03-16
发明人 :
陶帮富
申请人 :
上海闻泰信息技术有限公司
申请人地址 :
上海市普陀区云岭东路89号2111-L室
代理机构 :
北京超成律师事务所
代理人 :
裴素英
优先权 :
CN202021310149.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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