一种射频发射机杂散辐射测试系统

授权

摘要

本实用新型提供一种射频发射机杂散辐射测试系统，是一种近场测试系统，测试场为微波暗室；伺服系统为安装在微波暗室内的一轴精密转台,待测射频发射机的天线设置在精密转台上；射频分系统包括矢量网络分析仪，所述的矢量网络分析仪利用测试探头接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。本实用新型是利用一轴转台配合探头阵列实现电磁场的球面近场采样。

基本信息

专利标题：

一种射频发射机杂散辐射测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021432353.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-20

授权号：

CN212433285U

授权日：

2021-01-29

发明人：

卜景鹏官国阳严方勇刘忠程

申请人：

广东圣大电子有限公司

申请人地址：

广东省佛山市顺德区伦教街道办事处霞石村委会新熹四路北2号

代理机构：

北京中济纬天专利代理有限公司

代理人：

孔凡亮

优先权：

CN202021432353.6

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10