高精度散斑及其制备优化和应变测量方法
公开
摘要

本申请公开了一种高精度散斑及其制备优化和应变测量方法,制备与优化方法包括以下步骤:确定与试样适配的散斑尺寸,并选取所述尺寸的含散斑的纳米金‑水溶液;将试样加工至与所述散斑尺寸适配的试样尺寸,并对所述试样的表面进行预处理;经由所述含散斑的纳米金‑水溶液获得含散斑的纳米金‑乙醇溶液;将含散斑的纳米金‑乙醇溶液滴涂在所述试样的表面,并蒸发乙醇溶液;待所述试样的表面乙醇溶液蒸发后,重复上一步,直至获得恰当的散斑分布密度,制备获得高精度散斑。本申请通过优化方法,可以高效的提升散斑图像质量,获得高精度的材料表面应变场分布云图。

基本信息
专利标题 :
高精度散斑及其制备优化和应变测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563251A
申请号 :
CN202210270297.8
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-03-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱明亮陈蓉胡孝凯庄彬彬王宇超轩福贞
申请人 :
华东理工大学
申请人地址 :
上海市徐汇区梅陇路130号
代理机构 :
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
翟羽
优先权 :
CN202210270297.8
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28  G01B11/16  G01N3/06  G01N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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