一种自适应散斑干涉测量方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及光学测量技术领域,特别是涉及一种自适应散斑干涉测量方法及系统,该方法包括:基于四步相移算法,每一次相移均按照曝光时间从短到长获取一组待检测物体的散斑图像,获取四组参考散斑图像;分别对各组参考散斑图像进行图像融合,获取四幅参考散斑融合图像;基于四步相移算法,获取四组变形后散斑图像;分别对各组变形后散斑图像进行图像融合,获取四幅变形后散斑融合图像;四幅变形后散斑融合图像和四幅参考散斑融合图像均存放到GPU内存中,通过并行计算,根据四幅变形后散斑融合图像和四幅参考散斑融合图像确定所述待检测物体变形的相位,并完成实时显示。本发明提高了相位测量的稳定性和适用性。

基本信息
专利标题 :
一种自适应散斑干涉测量方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485448A
申请号 :
CN202210088045.3
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张东升张涛
申请人 :
上海大学
申请人地址 :
上海市宝山区上大路99号
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
赵兴华
优先权 :
CN202210088045.3
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20220125
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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