高精度高稳定性电子散斑干涉实时相位测量系统
授权
摘要

提供一种高精度高稳定性电子散斑干涉实时相位测量系统,其包括:迈克尔逊干涉仪,其包括相移镜和数字相机;压电陶瓷,用于前后移动所述相移镜;驱动器,用于驱动所述压电陶瓷;方波电压信号与三角波电压信号同步发生器,分别与所述驱动器和数字相机连接,所述数字相机以周期t在所述周期为4t的三角波电压信号内等时间间隔采集A、B、C和D四个时刻的四幅散斑干涉图像,获得对应的光强分布IA、IB、IC、ID,在所述4t时间内所述相移镜的位移为3λ/4或3λ/8;以及处理器,用于将所述IA、IB、IC、ID进行n等分,对n等分的子图像多线程并行计算获得n个子相位图,拼接n个子相位图,获得表征被测物体离面位移或离面位移导数的实时相位。

基本信息
专利标题 :
高精度高稳定性电子散斑干涉实时相位测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022357977.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-21
授权号 :
CN213208916U
授权日 :
2021-05-14
发明人 :
刘斌
申请人 :
上海工程技术大学
申请人地址 :
上海市长宁区仙霞路350号
代理机构 :
北京云嘉湃富知识产权代理有限公司
代理人 :
程凌军
优先权 :
CN202022357977.2
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B11/16  G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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