应用于电子散斑干涉全场三维变形检测的检测装置

授权

摘要

本实用新型属于光学测量领域，具体涉及一种应用于电子散斑干涉全场三维变形检测的检测装置。该检测装置包括基座、水平检测机构、竖直检测机构和离面检测机构，基座上设有测量位，离面检测机构包括离面激光器、迈克尔孙干涉仪和压电传感器组件；迈克尔孙干涉仪设置于测量位处，离面激光器和压电传感器组件相对地设置于迈克尔孙干涉仪两侧，待测物体和相机相对地设置于迈克尔孙干涉仪另一方向上的两侧，以使得离面激光器产生的激光通过迈克尔孙干涉仪的半反半透镜分成两束，一束作为物光而另一束反射作为参考光，两束光在相机的CCD靶面上干涉成像；同时，水平检测机构和竖直检测机构亦在相机的CCD靶面上干涉成像。

基本信息

专利标题：

应用于电子散斑干涉全场三维变形检测的检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920906747.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-17

授权号：

CN210119210U

授权日：

2020-02-28

发明人：

杨时敏周辉张英杰王飞沈伟民

申请人：

上海航天化工应用研究所

申请人地址：

上海市闵行区中春路1777号

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

王闯

优先权：

CN201920906747.1

主分类号：

G01B11/16

IPC分类号：

G01B11/16