一种多维散斑干涉系统及实时测量方法
公开
摘要
本发明提供一种多维散斑干涉系统及实时测量方法。所述散斑干涉系统包括激光器、光纤耦合器、四个光阑、两个分光棱镜、两个光纤夹持器、反射镜、载物平台、带CCD摄像机的图像处理接收系统、带LabVIEW上位机的计算机。所述测量方法包括运行设置模块、分时和实时选择模块、分时图像处理模块和实时图像处理模块。本发明结构紧凑，操作简便，可实现漫反射物体的分时或实时形变测量，检测目标为被测物体表面面内和离面的形变量。
基本信息
专利标题 ：
一种多维散斑干涉系统及实时测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114322808A
申请号 ：
CN202111458664.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈振凯周文静于瀛洁刘雨杭丁剑雯
申请人 ：
上海大学
申请人地址 ：
上海市宝山区上大路99号
代理机构 ：
上海上大专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
何文欣
优先权 ：
CN202111458664.9
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16 G01D5/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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