基于散斑编码结构光的包裹体积测量方法、装置及系统

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摘要

本发明涉及机器视觉技术领域，具体公开了一种基于散斑编码结构光的包裹体积测量方法，其中，散斑模组能够发射出散斑带，散斑带包括多个散斑点，每个散斑点具有表示相对位置的编码，测量方法包括：获取工业相机采集的待测散斑图像；确定待测散斑图像对应的散斑编码；将待测散斑图像对应的散斑编码与预设参考散斑图像对应的散斑编码进行比对，得到待测散斑图像中的每个散斑点相对于预设参考面的高度；根据待测散斑图像中的每个散斑点相对于预设参考面的高度并结合运动拟合得到待测包裹的体积。本发明还公开了一种基于散斑编码结构光的包裹体积测量装置及系统。本发明提供的基于散斑编码结构光的包裹体积测量方法有效解决了包裹遮挡的问题。

基本信息

专利标题：

基于散斑编码结构光的包裹体积测量方法、装置及系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111561872A

申请号：

CN202010449076.8

公开（公告）日：

2020-08-21

申请日：

2020-05-25

授权号：

CN111561872B

授权日：

2022-05-13

发明人：

宋建涛李功燕全真成蔡烨

申请人：

中科微至智能制造科技江苏股份有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市锡山区大成路299号

代理机构：

无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

曹祖良

优先权：

CN202010449076.8

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06 G01B11/25 G06T7/62