本发明涉及光学三维测量技术领域，公开了一种基于离焦度解包裹的结构光三维测量方法及装置。本发明基于对离焦度与相位的数学分析提出了离焦相位函数的概念，该函数用于表示离焦度与相位的函数关系。本发明在待测物体上投影不同条纹宽度的二值条纹，并拍照以采集对应条纹图像，对该条纹图像计算包裹相位，进而根据不同条纹宽度的二值条纹的调制度计算离焦度，将得到的离焦度代入已标定好的离焦相位函数以获取参考相位，基于该参考相位进行解包裹，从而得到用于重建三维点云的绝对相位。本发明与依赖相位精度的多频外差法不同，不会受到相位误差大小的影响，在深度大幅度变化导致相位误差增大的场景下能够实现高精度的三维测量。