小电容测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种小电容测试系统，包括：待测元器件；振荡模块电连接待测元器件以对待测元器件充放电以形成检测信号；阻抗匹配模块电连接振荡模块并将检测信号变换成电压信号；校验值预设模块电连接阻抗匹配模块以接收电压信号并预设校验值，振荡模块接收并根据电压信号和校验值进行比较得到数字信号；主控制模块电连接振荡模块以接收数字信号并将数字信号进行计算得到待测元器件的电容值。本实用新型通过对待测元器件进行充放电操作后，阻抗匹配模块检测到待测元器件两端电压值，再通过振荡模块根据校验值和电压值进行计算得到待测元器件的数字信号，主控制模块根据数字信处理与计算得到待测元器件的值，使待测元器件的小电容测试更加精确。
基本信息
专利标题 ：
小电容测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020232641.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-28
授权号 ：
CN211955660U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
张华勇陆小珊谭东
申请人 ：
深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道塘下涌社区洋涌路96号厂房105
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
洪铭福
优先权 ：
CN202020232641.0
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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