一种间歇寿命试验系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种间歇寿命试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，其特征在于：柜体表面设置独立通道，独立通道左侧下部设置独立开关按钮，独立开关按钮与独立通道电性连接，柜体表面上部设置工业控制计算机，独立通道与工业控制计算机电性连接，工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机下方设置操作台，独立通道的数量为16个，16个独立通道关于工业控制计算机对称设置，16个独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与工业控制计算机电性连接，本实用新型既实现了对独立通道的独立控制，又可根据需要将闲置的独立通道关闭，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种间歇寿命试验系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020237780.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-02
授权号 ：
CN211785864U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
安浙文
申请人 ：
杭州高坤电子科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020237780.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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