一种便于高密度电阻率法多参数测量装置
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种便于高密度电阻率法多参数测量装置，包括支座，所述支座内螺纹连接有旋进套筒，所述旋进套筒内放置有测量电极；所述旋进套筒的内底部对称活动连接有两个底盖，两个所述底盖之间共同设置有用于限制两个底盖运动的限位组件，两个所述底盖的底部对称固定连接有若干个楔形板，所述旋进套筒的顶部螺纹连接有底部与测量电极的顶部相抵的顶盖，本实用新型能够打好的孔内利用底盖上设置的楔形板进行短距离的掘进，将电极运输至指定深度并将装置移出，避免了电极因孔内尘土堆积而达不到指定的深度影响勘探参数的测量，以及避免了装置留在孔内对测量造成影响。
基本信息
专利标题 ：
一种便于高密度电阻率法多参数测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020243155.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-03
授权号 ：
CN211554342U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
何胜甘斌赵振侯利朋苏世杰
申请人 ：
青海九0六工程勘察设计院;青海省环境地质勘查局
申请人地址 ：
青海省西宁市城东区德令哈路278号
代理机构 ：
成都正华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李蕊
优先权 ：
CN202020243155.9
主分类号 ：
G01V3/02
IPC分类号 ：
G01V3/02 G01V3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/02
利用电流的传输进行操作的
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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