一种待测件内表面缺陷的检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及缺陷检测装置技术领域，公开了一种待测件内表面缺陷的检测装置，包括：支架；检测机构，至少两组所述检测机构沿所述支架的长度方向间隔设置，所述检测机构包括图像采集组件，位于所述支架两端的两组所述检测机构的所述图像采集组件背对设置；及驱动机构，所述驱动机构被配置为驱动所述支架及所述检测机构移动及转动。该待测件内表面缺陷的检测装置，通过设置两组检测机构分别在不同位置对内胆的内表面进行图像采集，减少了图像采集组件采集的次数，检测较为方便，大大提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种待测件内表面缺陷的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020252425.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-04
授权号 ：
CN211669094U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
白云勇张维杰刘玉平庄逊姚星星
申请人 ：
青岛海尔工业智能研究院有限公司;青岛蓝鲸科技有限公司;海尔数字科技（青岛）有限公司;海尔卡奥斯物联生态科技有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市黄岛区团结路2877号中德生态园管委会257房间
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
胡彬
优先权 ：
CN202020252425.2
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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