用于检测弧面区域内部缺陷的装置
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种用于检测弧面区域内部缺陷的装置,属于检测领域。所述装置包括摄像机和光源结构,所述光源结构包括至少第一光源、第二光源,其中所述第一光源和所述第二光源位于摄像机的一侧,所述第一光源和所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同,其中所述第一光源的光线出口侧设置有第一光栅,所述第二光源的光线出口侧设置有第二光栅,所述第一光栅和所述第二光栅使得所述第一光源照射所述被测弧面区域形成的第一照亮带和所述第二光源照射所述被测弧面区域形成的第二照亮带相互垂直,所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。其能够快速确定被测弧面区域的内部是否存在缺陷,并且能够确保检测结果的客观、准确。
基本信息
专利标题 :
用于检测弧面区域内部缺陷的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020272195.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-06
授权号 :
CN212059943U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
林义雄邱胜郁昌昆张刚伟陈世泽
申请人 :
捷普电子(新加坡)公司
申请人地址 :
新加坡淡滨尼工业区16号
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
王晓晓
优先权 :
CN202020272195.6
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载