用于检测弧面区域表面缺陷的装置
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种用于检测弧面区域表面缺陷的装置，属于检测领域。所述装置包括摄像机和光源结构，所述光源结构包括至少第一光源、第二光源，其中所述第一光源和所述第二光源位于所述摄像机的同一侧，所述第一光源与所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同，所述第一光源照射所述被测弧面区域形成第一照亮带、所述第二光源照射所述被测弧面区域形成第二照亮带，所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。其能够快速确定被测弧面区域的表面是否存在缺陷，并且能够确保检测结果的客观、准确。
基本信息
专利标题 ：
用于检测弧面区域表面缺陷的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020272226.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN212111170U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
林义雄卢廷星昌昆张刚伟陈世泽
申请人 ：
捷普电子(新加坡)公司
申请人地址 ：
新加坡淡滨尼工业区16号
代理机构 ：
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖冰滨
优先权 ：
CN202020272226.8
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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