一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路

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摘要

本实用新型公开了一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路，涉及测量电路技术领域。电路中包括数模转换芯片，运算放大器，差分4通道数字控制模拟开关，电容，电阻；数模转换芯片输入端与单片机等控制设备相连，通过单片机等编程，从而在输出端产生想要的电压。数模转换芯片的输出端和数字模拟开关第一输入第一通道相连；同时，数模转换芯片的输出端和经电阻和运算放大器的方向端相连解决了单一电压测试测试中的缺陷。通过U1产生基准而通过U2进行正负电平产生，通过U3进行电平选择，后叠加功率放大电路，产生正负电流，这样加在产品上的电流正负交替，因而有效地避免单一电压引起的产品测试产生的热效应，从而导致测试小误差的产生。

基本信息

专利标题：

一种直流测试中解决直流测试带来的温度效应的电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020316217.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-15

授权号：

CN212723119U

授权日：

2021-03-16

发明人：

王永生林建龙

申请人：

常州市优策电子科技有限公司

申请人地址：

江苏省常州市天宁区丽华北路79号

代理机构：

北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

徐家升

优先权：

CN202020316217.4

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00