温度测试治具
专利权的终止
摘要

本实用新型提供一种温度测试治具,其适用于固定若干探头,以测试一被测物上若干被测点处的温度;该温度测试治具包括一基板,该基板上设有若干穿孔;这些穿孔内分别穿设有若干支座,且这些支座分别包括一套轴,这些套轴的端部分别设有一限位部,这些限位部的顶部分别固定一探头;这些套轴外分别套设有一弹性元件,且这些弹性元件的一端分别抵持于限位部内侧,而这些弹性元件的另一端分别抵持于基板表面。温度测试治具通过多个支座将多个探头加以固定,测试时,将被测物在重力或下压力的作用下压靠于温度测试治具上方,并使各个探头正对着各个被测点的位置,即可实现探头与被测点之间的弹性接触,以省去手动粘接探头的程序,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
温度测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720033443.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-01-06
授权号 :
CN201014965Y
授权日 :
2008-01-30
发明人 :
江大阳
申请人 :
汉达精密电子(昆山)有限公司
申请人地址 :
215300江苏省昆山市出口加工区
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200720033443.6
主分类号 :
G01K1/14
IPC分类号 :
G01K1/14  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K1/14
支撑;固定装置;在特殊位置安装温度计的布置
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005900616
IPC(主分类) : G01K 1/14
专利号 : ZL2007200334436
申请日 : 20070106
授权公告日 : 20080130
2008-01-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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