一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪，由1550nm和1310nm激光器、2×2耦合器、3×3耦合器、准直器、衰减器、光电探测器、波分复用器、补偿光纤、PZT位移器和采集控制模块组成。本实用新型双色激光光纤干涉仪克服了传统单色光纤干涉仪在等离子体密度测量领域只能短时间测量缺点，测量出环境带来的相位漂移并且使用PZT位移器进行补偿，测量时间从一般光纤干涉仪的1毫秒内扩展到10秒以上，整个干涉仪构成简便，光路部分为全光纤结构，易安装且成本可控。
基本信息
专利标题 ：
一种长时间测量等离子体密度的双色激光光纤干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020339429.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-17
授权号 ：
CN211792194U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
张森兰涛庄革刘万东
申请人 ：
中国科学技术大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 ：
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 ：
邓治平
优先权 ：
CN202020339429.4
主分类号 ：
H05H1/00
IPC分类号 ：
H05H1/00
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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