高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统，该激光光纤干涉仪诊断系统采用光纤耦合器，减少了开放式光束系统中光学平台及其它光学器件的使用，进而结构简单，成本低。并且，该激光光纤干涉仪诊断系统利用光纤的可弯曲和易扩展特性，可使光电探测器足够远离待测等离子体区域，避免了等离子体产生过程的电磁干扰对测量的影响。
基本信息
专利标题 ：
高密度等离子体密度测量的激光光纤干涉仪诊断系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921284684.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-08
授权号 ：
CN210221312U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
张森兰涛
申请人 ：
中国科学技术大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
纪志超
优先权 ：
CN201921284684.7
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02 G01N9/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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