AOI检测装置以及检测系统
授权
摘要
本实用新型公开一种AOI检测装置以及检测系统，该AOI检测装置包括机架组件、转运机构和信息采集机构，机架组件包括第一承载台和第二承载台，转运机构可移动地设置于机架组件，信息采集机构设置于机架组件；AOI检测装置具有第一状态和第二状态，在AOI检测装置处于第一状态时，转运机构接近第一承载台而在第一承载台就第一工件进行上料；在AOI检测装置处于第二状态时，信息采集机构在第一承载台就第一工件采集信息，且转运机构接近第二承载台而在第二承载台就第二工件进行上料。上述方案能够解决目前的AOI检测装置存在的工作效率偏低的问题。
基本信息
专利标题 ：
AOI检测装置以及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020340810.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-18
授权号 ：
CN211741046U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
陈世泽林义雄陈琨昌昆张刚伟
申请人 ：
捷普电子（新加坡）公司
申请人地址 ：
新加坡新加坡市
代理机构 ：
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
南霆
优先权 ：
CN202020340810.2
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/892
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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