一种精准检测的锰矿X荧光仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种精准检测的锰矿X荧光仪,属于X荧光仪领域,包括安装架、盛放架、荧光检测结构、转动架、重锤、安装槽、盛放板、微型振动电机、重锤阻尼结构。通过安装架进行承载,利用盛放架配合转动架,进而实现两个方向的转动,利用重锤带动盛放架转动进而带动盛放板转动,进而使得盛放板保持水平状态,使得荧光检测结构上的被检测的锰矿的矿粉保持水平状态,然后利用微型振动电机工作,带动盛放板振动,进而带动盛放板上的荧光检测结构振动,进而将荧光检测结构上的矿粉振平,进而在压片压片时使得矿粉分布均匀,进而提升分析结果的精度,利用重锤阻尼结构对重锤进行粘滞阻尼,防止重锤受惯性不断摇摆,影响盛放板水平。

基本信息
专利标题 :
一种精准检测的锰矿X荧光仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020441412.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-31
授权号 :
CN211825781U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
闫朋
申请人 :
闫朋
申请人地址 :
天津市滨海新区开发兆发新村8号
代理机构 :
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘跃
优先权 :
CN202020441412.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/2204  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-03-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20200331
授权公告日 : 20201030
终止日期 : 20210331
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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