荧光检测系统
授权
摘要
公开了用于在样品中激发和检测荧光的设备和方法。在一个实施例中,提供了用于保持多个样品的样品保持器以及具有所述多个样品中的每一个的激发源、光敏接收器或二者的光学集管。在另一实施例中,所述光学集管仅包含所述激发源或光敏接收器二者之一,且所述激发源和光敏接收器二者中的另一个与所述样品保持器相联结。此系统允许无需使用移动部件并且无任何光学机械干扰或电子干扰地快速激发并测量荧光。它呈现出优异的信噪比,这允许其对非常低水平的荧光差异进行区分。
基本信息
专利标题 :
荧光检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101166966A
申请号 :
CN200580046269.2
公开(公告)日 :
2008-04-23
申请日 :
2005-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
小威廉·D·比克莫尔丹文·雷·罗伯茨
申请人 :
高级分子系统公司
申请人地址 :
美国犹他州
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
杨生平
优先权 :
CN200580046269.2
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2011-11-09 :
授权
2009-11-11 :
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 高级分子系统公司
变更后权利人 : DxNA有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国犹他州
变更后权利人 : 美国犹他州
登记生效日 : 20091016
变更前权利人 : 高级分子系统公司
变更后权利人 : DxNA有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国犹他州
变更后权利人 : 美国犹他州
登记生效日 : 20091016
2008-06-18 :
实质审查的生效
2008-04-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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