一种异物检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种异物检测装置，包括向所述玻璃基板上发射光的光源、位于所述玻璃基板和光源之间的格栅和拍摄被所述光源的光透过格栅照射后的所述玻璃基板的照片的相机。本实用新型可以方便快捷的对玻璃基板上异物类型的不良进行检测，来达到判断异物的有无和检出异物颗粒的大小的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种异物检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020447013.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN211905143U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
安宁
申请人 ：
上海和辉光电股份有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区金山工业区九工路1568号
代理机构 ：
上海隆天律师事务所
代理人 ：
朱俊跃
优先权 ：
CN202020447013.4
主分类号 ：
G01N21/958
IPC分类号 ：
G01N21/958 G01D21/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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