一种极片缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种极片缺陷检测装置,所述极片包括极片本体部及设置于所述极片本体部两侧的两个极耳部,包括支撑架、依次可转动地设置于所述支撑架上的第一导辊机构、第二导棍机构以及台阶棍机构,所述第一导辊机构与第二导辊机构配合,所述台阶棍机构与第二导辊机构配合,所述台阶棍机构包括固定于所述支撑架上的第一轴承、安装于所述第一轴承上的第一转轴、安装于第一转轴上的主体部、设置分别设置于所述主体部两端的台阶部,所述台阶部截面直径小于所述主体部截面直径。提高产品质量,提高了产品生产的合格率,降低了生产成本。
基本信息
专利标题 :
一种极片缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020466011.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-02
授权号 :
CN211785076U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
饶卫景丁幼祥
申请人 :
深圳市阿尔斯自动化科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区航城街道鹤洲社区鹤洲西区工业园第二栋厂房101一楼整层
代理机构 :
深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司
代理人 :
李华双
优先权 :
CN202020466011.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/892
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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