用于低频电磁兼容测试的测量装置
授权
摘要
用于低频电磁兼容测试的测量装置主要包括混响室（10）、搅拌器（20）、三个伸缩式可调谐线极化发射天线；三个天线连接三个发射机、放置于三个相互垂直的墙面上，天线的极化方向垂直于其所在的墙面，天线在其所在墙面的位置，要避免位于所要激发模式电场零点位置，并激励起从最低阶开始、到高阶的连续的多个模式。本测量装置，可以激励起电场任意方向的模式，实现激励模式相对大小的调节，发射天线在整个测试频段都能够达到最佳的匹配，所激励模式数量多，在测量频率较低时，例如30MHz到80MHz时，依然可以提高混响室内部场强的均匀性，激励效率高。
基本信息
专利标题 ：
用于低频电磁兼容测试的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020476286.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-03
授权号 ：
CN212134840U
授权日 ：
2020-12-11
发明人 ：
沈学其彭鹏范文远
申请人 ：
南京容测检测技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区高新园诚信大道2108号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020476286.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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