用于测量可光聚合材料的光敏性的测试单元和测试设备
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摘要

本实用新型涉及一种用于测量可光聚合材料的光敏性的测试单元和测试设备。一种可用于确定可光聚合材料的光敏性的测试单元,包括:支撑板,其具有顶表面部分、底表面部分和在顶表面部分和底表面部分之间延伸的开口;透光基部构件,其可移除地或永久地连接到所述底表面部分,以与所述开口一起形成孔,可光聚合材料能够沉积到该孔中;以及传感器,其包括与所述透光基部构件可操作地相关联的热传感器、应变传感器或其组合。

基本信息
专利标题 :
用于测量可光聚合材料的光敏性的测试单元和测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020105298.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-17
授权号 :
CN212255229U
授权日 :
2020-12-29
发明人 :
J.R.坦布尔斯顿A.M.赫曼M.潘策尔T.巴兰蒂
申请人 :
卡本有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
吴超
优先权 :
CN202020105298.3
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2020-12-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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