本实用新型提供一种光敏芯片制品测试工装，包括底座、插座、PCB、自动测试装置和手动测试装置；底座上设有放置槽；放置槽内设有透光片；底座内对应透光片的底部设有光源；插座的一端设有PIN针；PIN针位于放置槽的一端；PCB安装在底座上方；PCB上设有光源开关、四个手动检测开关、电源接线柱、皮安表接线柱和跳线；自动测试装置包括测试主机、自动测试插头和自动测试开关；测试主机分别与PCB、自动测试插头以及自动测试开关电连接；手动测试装置包括电源、皮安表和手动测试插头；手动测试插头与PCB电连接；手动测试插头与自动测试插头择一安装在PIN针上方；体现出本实用新型可灵活切换手动与自动对光敏芯片制品进行测试，方便使用。