一种超声波探头自动校准装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种校准装置。技术方案是：一种超声波探头自动校准装置，包括校准超声波探头用的试块；其特征在于所述试块右侧的圆弧面上安装有超声波晶片阵列，超声波晶片阵列外覆盖有电阻薄膜，该电阻薄膜通过导线与外部的超声波探伤仪接通以输出测点位置信号，由于超声波是一束声波，所以取晶片阵列中声波接收最大位置为反馈信号，根据该位置信号就可以计算出探头的K值；试块的上表面安装有用于测量探头前沿长度的前沿测量组件，该前沿测量组件也通过导线与外部的超声波探伤仪接通以输出距离测量数据。该校准装置可实现对各种超声波斜探头进行自动校准，自动生成探伤曲线，从而减轻检验人员的工作量，提升效率。
基本信息
专利标题 ：
一种超声波探头自动校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020483241.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-03
授权号 ：
CN211856474U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
赵立钟丰平
申请人 ：
浙江省特种设备科学研究院
申请人地址 ：
浙江省杭州市江干区凯旋路211号
代理机构 ：
杭州九洲专利事务所有限公司
代理人 ：
王之怀
优先权 ：
CN202020483241.7
主分类号 ：
G01N29/30
IPC分类号 ：
G01N29/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/30
校准或比较，例如，用标准物体
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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