同轴线扫描光源
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摘要

本实用新型公开了同轴线扫描光源,包括散热基座、侧板一、侧板二、光源、透光柱、分光镜、上盖板、观测板、出光板、堵头一和堵头二,所述光源设置在散热基座上方,所述侧板一、侧板二分别设置在散热基座两侧,所述透光柱设置在光源上方,所述观测板与侧板一连接且设置在侧板一上方,出光板与侧板二连接且设置在侧板二上方,所述堵头一、堵头二分别从两端卡住散热基座和上盖板,所述观测板上设置有观测口,所述出光板与观测口对应的位置设置有出光玻璃,所述分光镜与出光玻璃呈45°角。本实用新型结构简单、拆装方便、光照强度高、应用于高亮度或透明产品检测时精度更高。

基本信息
专利标题 :
同轴线扫描光源
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020520960.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-10
授权号 :
CN212083271U
授权日 :
2020-12-04
发明人 :
徐健
申请人 :
江苏佳视达光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园G10-806
代理机构 :
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹玉清
优先权 :
CN202020520960.1
主分类号 :
G01N21/958
IPC分类号 :
G01N21/958  G01N21/95  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2020-12-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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