一种用于扩展晶体辐射测量量程的电路
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于扩展晶体辐射测量量程的电路,包括用于接收幅照并产生光信号的晶体,晶体产生的光信息号输入给光电倍增管,光信号通过光电倍增管转化为电流信号并输入给电荷放大器;电流信号通过电荷放大器累积放大并转换为电压信号输入给A/D模数转换芯片;通过A/D模数转换芯片将电压信号转化为对应的数字信号。本实用新型解决现有技术中测量量程范围较窄的技术问题,能够用于拓宽测量测量,提高测量仪器便携性,本实用新型还通过升压稳压芯片、低压直流电源与CW倍压电路组成高压电路为光电倍增管进行供电,以降低功耗。

基本信息
专利标题 :
一种用于扩展晶体辐射测量量程的电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020638807.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-24
授权号 :
CN211928193U
授权日 :
2020-11-13
发明人 :
方仕立
申请人 :
重庆建安仪器有限责任公司
申请人地址 :
重庆市南岸区南坪西路168号
代理机构 :
重庆博凯知识产权代理有限公司
代理人 :
周玉玲
优先权 :
CN202020638807.9
主分类号 :
G01T1/208
IPC分类号 :
G01T1/208  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
G01T1/208
专用于闪烁探测器的电路,例如,用于光电倍增管部件
法律状态
2020-11-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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