一种具有高损伤阈值的声光Q开关
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摘要
本发明涉及光电子技术领域，涉及一种具有高损伤阈值的声光Q开关，包括底座，所述底座内设置有水冷块，在底座的下部安装有与所述水冷块连通的水嘴，所述水冷块的侧壁上安装有声光介质，所述声光介质上表面设置有焊接层，所述焊接层上安装有换能器，所述换能器的上表面设置有表电极；所述表电极通过匹配网络、温度继电器连接到射频插座；所述声光介质为高纯度融石英或石英晶体，在声光介质的通光面上镀制了短波谱段的减反膜；本发明用高纯度融石英或石英晶体代替氧化碲晶体，能够大幅度提高短波声光Q开关的损伤阈值；采用高纯金或高纯银作为键合层材料能提高声光Q开关承受驱动电功率的能力，提高声光Q开关的衍射效率。
基本信息
专利标题 ：
一种具有高损伤阈值的声光Q开关
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020667042.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-27
授权号 ：
CN211700923U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
张泽红毛世平蒋世义谢强
申请人 ：
中国电子科技集团公司第二十六研究所
申请人地址 ：
重庆市南岸区南坪花园路14号
代理机构 ：
重庆辉腾律师事务所
代理人 ：
王海军
优先权 ：
CN202020667042.1
主分类号 ：
H01S3/117
IPC分类号 ：
H01S3/117
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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