一种熔融石英元件的损伤阈值预测方法
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摘要
本发明提供了一种熔融石英元件的损伤阈值预测方法包括：提供一待测熔融石英元件；测量所述待测熔融石英元件的荧光信号和拉曼散射信号；基于所述荧光信号，获取缺陷荧光峰；基于所述拉曼散射信号，获取拉曼散射峰；基于所述缺陷荧光峰的面积和所述拉曼散射峰的面积进行归一化处理；基于归一化处理结果，预测所述待测熔融石英元件的损伤阈值。该损伤阈值预测方法可以无损坏的且快速的预测熔融石英元件的损伤阈值。
基本信息
专利标题 ：
一种熔融石英元件的损伤阈值预测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112683865A
申请号 ：
CN202011470608.2
公开（公告）日 ：
2021-04-20
申请日 ：
2020-12-14
授权号 ：
CN112683865B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
张增明王鹤代如成王中平
申请人 ：
中国科学技术大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
李晓光
优先权 ：
CN202011470608.2
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/65 G01N21/958
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2021-05-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20201214
申请日 : 20201214
2021-04-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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