一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉...
实质审查的生效
摘要

一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法,它属于工程光学领域,本发明为解决现有技术缺乏有效的方法用于计算或表征熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积的问题;本发明按如下步骤进行:步骤一确定熔融石英光学元件加工表面缺陷区缺陷能级结构;步骤二、获取熔融石英光学元件加工表面缺陷区和无缺陷区受激发产生的荧光发射光谱荧光强度;步骤三、建立光学元件加工表面缺陷区材料非线性离化模型;步骤四、获取熔融石英光学元件无缺陷表面各能级电子密度随时间演变曲线及能量沉积过程中产生的温度;步骤五、获取表征熔融石英光学元件加工表面引发激光损伤初期能量沉积过程的温度和自由电子密度。

基本信息
专利标题 :
一种熔融石英光学元件加工表面缺陷区引发激光损伤初期能量沉积计算方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324393A
申请号 :
CN202111621354.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程健杨丁槐陈明君赵林杰刘赫男王振华王景贺刘志超王健许乔
申请人 :
哈尔滨工业大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 :
黑龙江立超同创知识产权代理有限责任公司
代理人 :
杨立超
优先权 :
CN202111621354.4
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/64  G06F17/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20211228
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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