一种塞贝克系数测量装置
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摘要
本实用新型涉及一种塞贝克系数测量装置，包括基座以及由基座上安装的相互间隔的两陶瓷块；两陶瓷块分别用于安装待测样品两测试端的一端，从而使待测样品悬架于两陶瓷块之间；测量装置还包括支架，支架设置有两导杆分别与两陶瓷块对应；导杆各套设有弹簧、支撑并引导弹簧朝向对应陶瓷块弹性伸缩；配置弹簧以使弹簧的底端可将待测样品的两测试端分别弹性地压紧于对应陶瓷块上；测量装置采用热电偶测量待测样品两测试端的温度差和/或电压差时，热电偶的两测试点分别贴设于待测样品的两测试端上，两弹簧的底端将热电偶的测试点分别弹性地压紧于待测样品的两测试端。
基本信息
专利标题 ：
一种塞贝克系数测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020700584.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-29
授权号 ：
CN212207180U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
付强吴志敏
申请人 ：
深圳职业技术学院
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽湖
代理机构 ：
深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
王昌花
优先权 ：
CN202020700584.4
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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