基于光栅尺的测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及测量仪器技术领域，特别涉及一种基于光栅尺的测量装置，包括底座、光栅尺以及测量头，所述光栅尺包括尺壳和读数头，光栅尺的尺壳固定安装在底座上，测量头固定在光栅尺的读数头上用于接触待测物体的表面。光栅尺具有量程大、精度高的特点，我们通过将光栅尺的尺壳固定在底座上，待测产品放置在底座上，再通过光栅尺的读数头上固定的测量头就可以方便的对待测产品进行测量，该装置可以同时实现外径和内径的测量，也可以进行高度的测量，使用起来非常方便。
基本信息
专利标题 ：
基于光栅尺的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020727079.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-06
授权号 ：
CN211668443U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
陈文杰
申请人 ：
深圳市尼柯光学精密技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道创业一路西一巷富源工业区A座2楼
代理机构 ：
合肥九道和专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
胡发丁
优先权 ：
CN202020727079.9
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B11/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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