一种光栅尺位移测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种光栅尺位移测量系统，单片机模块、供电模块、光栅尺模块、整形电路模块和液晶屏显示模块；所述单片机模块跟所述供电模块电性连接，所述光栅尺模块通过所述整形电路模块跟所述单片机模块电性连接，所述液晶屏显示模块跟所述单片机模块电性连接；所述光栅尺模块采集位移量信息，所述位移量信息经过所述整形电路模块处理后传输给所述单片机模块，所述单片机模块将处理后的位移信息通过所述液晶屏显示模块实时显示。此技术方案操作简单，并具有精确度高、数据可读性高和数据可传输至PC上位机的优点，用液晶屏显示模块实时显示位移量，方便用户测量位移数据并进行记录和整理。
基本信息
专利标题 ：
一种光栅尺位移测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021402376.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN212567285U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
张晨张秀再周丽娟
申请人 ：
南京信息工程大学
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区宁六路219号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
施昊
优先权 ：
CN202021402376.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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