一种结构物位移测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种结构物位移测量系统，包括智能摄像机、设置于被测结构物上的特征靶标及智能设备，所述特征靶标为一个具有固定直径d的标准圆，其上均匀分布有数个特征码，智能摄像机布置于与被测结构物的被测平面相对的稳固位置，并且其镜头在视野范围内同时能观测到多个被测平面内的多个特征靶标，智能摄像机在其光轴与观测的特征靶标成正交或其光轴与观测的特征靶标存在夹角时进行成像测量，本实用新型节约了仪器造价成本，大大提高监测精度，应用便捷高效。
基本信息
专利标题 ：
一种结构物位移测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021445568.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-21
授权号 ：
CN214199982U
授权日 ：
2021-09-14
发明人 ：
徐辉宋爽姚鸿梁
申请人 ：
上海同禾工程科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市虹口区中山北二路1515号E段十一层1111室
代理机构 ：
上海天协和诚知识产权代理事务所
代理人 ：
张恒康
优先权 ：
CN202021445568.1
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G06K9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-09-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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