一种可测量玻璃尺寸的上片机
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摘要

本实用新型提供一种可测量玻璃尺寸的上片机,涉及玻璃生产设备技术领域,包括工作台,所述工作台一侧与一端设有滑轨,所述滑轨上设有电动滑块,所述电动滑块顶部设有升降杆,所述升降杆一端设有伸缩杆与弯折伸缩杆;所述工作台顶部设有垫板,所述垫板顶部设有玻璃板,所述玻璃板两侧与两端设有所述伸缩杆与所述弯折伸缩杆,所述伸缩杆与所述弯折伸缩杆一端设有触碰传感器,所述伸缩杆与所述弯折伸缩杆顶部设有测试块与红外测距仪;所述工作台顶部一侧设有第二套筒,所述第二套筒内设有弯折升降杆,所述弯折升降杆一端设有第一套筒,所述第一套筒两侧设有通孔,所述第一套筒内套设有压杆,所述压杆上设有按压钮。本实用新型结构稳定,测量效果好。

基本信息
专利标题 :
一种可测量玻璃尺寸的上片机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020745421.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-08
授权号 :
CN212341454U
授权日 :
2021-01-12
发明人 :
张君春孙法鋆卞勇方赟
申请人 :
南京仁创智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区陶吴工业园乐园路5号
代理机构 :
南京常青藤知识产权代理有限公司
代理人 :
金迪
优先权 :
CN202020745421.8
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08  G01B11/02  G01B5/06  B65G49/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-01-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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