一种全平面高精度保护检测装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种全平面高精度保护检测装置，位于X荧光光谱仪上的中心部件与X荧光光谱仪上的样品放置台之间，包括防撞底板、位于所述防撞底板上的检测组件以及用于连接所述中心部件的安装板；所述防撞底板上设有内凹空腔，所述检测组件位于所述内凹空腔内，所述检测组件包括第一侧板、位于所述第一侧板上的信号发射器、第二侧板以及位于所述第二侧板上的信号接收器，所述安装板数量为两个且分别位于所述第一侧板、第二侧板正上方，所述安装板上设置有挡块，所述挡块能够对所述信号发射器、信号接收器进行阻挡。本实用新型在中心部件在靠近样品时，能够对中心部件进行有效地保护，避免中心部件在使用过程中受到损坏。

基本信息

专利标题：

一种全平面高精度保护检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020749818.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-09

授权号：

CN212111207U

授权日：

2020-12-08

发明人：

马云

申请人：

江苏一六仪器有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市玉山镇成功路168号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020749818.4

主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

G01N23/223