一种测试吸波装置
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摘要

本实用新型提供了一种测试吸波装置,包括吸波箱及设于吸波箱内壁的吸波模块,吸波箱内固设有第一连接件,吸波模块上固设有第二连接件,吸波模块通过第二连接件挂接于所述第一连接件上。本方案将测试吸波装置中吸波材料的固定由打孔螺栓变为连接件之间的挂接,在保证稳固的同时,避免了吸波材料的整体性被破坏,从而提升了吸波的效果。此外,挂接的结构相对于打孔螺栓而言,耐久性和可替换性更好,同时还延长了测试吸波装置的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
一种测试吸波装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020761322.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-09
授权号 :
CN212646830U
授权日 :
2021-03-02
发明人 :
刘汛刘烨许玮
申请人 :
深圳市禹龙通电子股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区蛇口赤湾少帝路1号赤湾工业园D栋三楼、四楼
代理机构 :
深圳冀深知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡鹏娟
优先权 :
CN202020761322.9
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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