一种无损检测片状软磁粉末磁导率的制样装置

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摘要

本实用新型提供一种无损检测片状软磁粉末磁导率的制样装置：包括振动发生装置、支架、磁性件和非磁性材质的模具；支架安装在振动发生装置上并位于振动发生装置的上方；支架包括支架台板和台板支撑杆，支架台板通过台板支撑杆连接振动发生装置，支架台板的表面开设有磁性件插孔和模具插孔；磁性件具有磁性件内腔，模具具有样品容置腔；在工作状态下：模具插设于模具插孔，且模具的底部抵靠振动发生装置，或，磁性件插设于磁性件插孔，且模具置入磁性件内腔，且磁性件的底部抵靠振动发生装置。该制样装置中的制样装置结构简单，操作简便，采用该制样装置可以使松散的片状软磁粉末在排列成纵向平行的密致的有序待测体。

基本信息

专利标题：

一种无损检测片状软磁粉末磁导率的制样装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020830973.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-18

授权号：

CN212932098U

授权日：

2021-04-09

发明人：

刘国军

申请人：

湖南纳金新材料技术有限公司

申请人地址：

湖南省衡阳市衡东县经济开发区宁国南路15#

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

肖宇扬

优先权：

CN202020830973.9

主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N1/28 G01R33/12