一种GIS现场X射线检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种GIS现场X射线检测装置，包括：支架、X射线机(4)、滑动装置(1)以及成像板(2)；所述X射线机(4)、滑动装置(1)和成像板(2)沿支架的长度方向顺次设置在所述支架上；所述滑动装置(1)，用于套设在GIS壳体外表面；所述X射线机(4)，用于向GIS壳体发射X射线；所述成像板(2)，用于接收经过GIS壳体的X射线并成像。本实用新型结构简单，同时安装与拆卸方便，极大降低了现场布置难度，提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种GIS现场X射线检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020897043.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-25
授权号 ：
CN212433014U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
任啸王谦赵晶刘熊李永福彭华东杨睿向竑宇
申请人 ：
国网重庆市电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司
申请人地址 ：
重庆市渝北区北部新区黄山大道中段80号办公综合楼
代理机构 ：
北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人 ：
贺春林
优先权 ：
CN202020897043.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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