X射线CT检测装置及检测方法
公开
摘要

本发明公开了X射线CT检测装置及X射线CT检测方法。CT检测装置包括置物台运动系统,位于置物台运动系统上方的X射线传感器运动系统,下方的X射线源运动系统,以及用于提供驱动X射线传感器与X射线源同步运动的传动系统;通过图像重建及显示单元对采集到的图像进行算法重建并显示重建结果,本发明可以实现对被检物目标区域选择、放大率调整及扫描检测响应速度大大加快。CT检测方法主要为X射线传感器面中心与X射线源焦点的连线,穿过被检物体,且X射线传感器与X射线源按预定圆周轨迹旋转时,间隔一定角度,采集一定数量图像,在此过程中X射线传感器面中心与焦点连线始终穿过被检物体。

基本信息
专利标题 :
X射线CT检测装置及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295650A
申请号 :
CN202110977657.3
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-08-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
唐志宏郑剑杰马刚
申请人 :
上海超群检测科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市松江区九亭镇涞坊路北侧C-1地块
代理机构 :
上海云沪专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郑义红
优先权 :
CN202110977657.3
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  G06T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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