新型键盘测试模组
授权
摘要

本实用新型公开了一种新型键盘测试模组,旨在提供一种使用方便及测试效率高的新型键盘测试模组。本实用新型包括电控箱及顶升机构,顶升机构设置在电控箱中,电控箱上设置有顶升板及盖板组件,顶升板与顶升机构相配合,顶升板上设置有产品载板组件,盖板组件与产品载板组件相配合,产品载板组件上设置有产品放置工位及测试针块模组,测试针块模组与产品放置工位相配合,且与电控箱相连接,盖板组件的一端铰接在电控箱上,盖板组件上设置有与产品放置工位相配合的若干个按压件。本实用新型应用于键盘测试的技术领域。

基本信息
专利标题 :
新型键盘测试模组
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020904765.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-26
授权号 :
CN212749201U
授权日 :
2021-03-19
发明人 :
邝家辉黄万演黄心填祝国昌张琛星
申请人 :
欧拓飞科技(珠海)有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市高新区金鼎科技八路9号(1号厂房)4楼
代理机构 :
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 :
王贤义
优先权 :
CN202020904765.9
主分类号 :
G01R31/54
IPC分类号 :
G01R31/54  G01R31/44  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2021-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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