一种键盘测试模组
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种结构简单、产品定位精度高且不会对产品造成损害的键盘测试模组。本实用新型包括底板，所述底板上设有产品凹槽，所述产品凹槽的槽边设置有若干个弹性销，所述产品凹槽内设置有若干个定位销，所述底板上还设置有至少一个安装位，所述安装位上设置有探针测试组件，所述探针测试组件包括固定在所述安装位上的测试PCB和底座，所述底座位于所述测试PCB的上方，所述底座的后端铰接有压盖，所述压盖上设置有压块，所述压块与开设在所述底座上的压槽相适配，所述压槽内设置有硅胶针片，所述硅胶针片内设置有若干根金属探针，所述金属探针与设置在所述测试PCB上的PIN点相配合。本实用新型可应用于测试模组的技术领域。
基本信息
专利标题 ：
一种键盘测试模组
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020869141.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-22
授权号 ：
CN212749145U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
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申请人 ：
欧拓飞科技（珠海）有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区金鼎科技八路9号（1号厂房）4楼
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202020869141.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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