一种电子元件质量检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元件质量检测装置，包括装置基座，所述装置基座的下表面且靠近四角处设置有电动推杆，所述电动推杆的活动端固定连接有活动直杆，所述活动直杆的顶部与装置基座固定连接，所述装置基座的上表面固定连接有固定架，所述固定架的左侧壁通过轴承转动连接有连接杆，所述连接杆远离轴承的一端固定连接有第一固定件，所述固定架的右侧壁通过轴承转动连接有转动杆，所述转动杆的一端固定连接有安装板，所述安装板的表面固定连接有气缸。本实用新型，进行检测工作时能够方便工作人员对电子元件进行检测，并且不需要反复拆卸元件即可对元件全面检测，具有较好的使用效果。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元件质量检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020918537.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-26
授权号 ：
CN212964662U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
黄玉攀鲍承林黄玉冬于昊龙
申请人 ：
江苏美斯其新材料科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省徐州市邳州市经济开发区环城北路北侧、红旗路东侧
代理机构 ：
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 ：
涂琪顺
优先权 ：
CN202020918537.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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