一种带校正组件的测试结构

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型提供一种带校正组件的测试结构，安装底板、测试片组A、测试片组B、校正组件、定位座安装板、定位座、测试片组A定位板、测试片组B定位板；所述校正组件包括支架、爪座A、校正爪A、爪座B、校正爪B、连接轴A、连接轴B、导向轴；所述安装底板的下表面固定设置有限位块，所述限位块与所述定位座对应的位置设置有顶针。本实用新型的有益效果是：通过设置校正组件，确保三极管测试时的位置正确，在确保测试精准度的前提下，确保测试的质量。

基本信息

专利标题：

一种带校正组件的测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020932080.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-28

授权号：

CN212364487U

授权日：

2021-01-15

发明人：

覃荣俊

申请人：

中之半导体科技（东莞）有限公司

申请人地址：

广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室

代理机构：

东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

何新华

优先权：

CN202020932080.5

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R1/04

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2021-07-20 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/26
变更事项 : 专利权人
变更前 : 中之半导体科技（东莞）有限公司
变更后 : 先之科半导体科技（东莞）有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 523430 广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室
变更后 : 523430 广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室

2021-01-15 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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