基于小测试点的四线高精度检测装置
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种既能够实现高精度检测又能够适应大规模生产的基于小测试点的四线高精度检测装置。本实用新型包括安装座、定位块以及针板模组，所述针板模组适配在所述安装座上，所述定位块设置在所述安装座上并且与所述针板模组的顶部相适配，所述针板模组包括底座、转接板以及若干个探针件，所述转接板设置在所述底座上，所述探针件包括两根探针，所述探针竖直设置在所述转接板上，待测芯片定位配合在所述定位块上，所述探针件的作用端与待测芯片的测试点相适配。本实用新型应用于芯片的检测领域。
基本信息
专利标题 ：
基于小测试点的四线高精度检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020953395.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-30
授权号 ：
CN212905268U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
朱彦飞郗旭斌
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202020953395.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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