一种用于检测复合材料的射线试块

授权

摘要

本实用新型公开了本实用新型的技术方案是提供了一种用于检测复合材料的射线试块，其特征在于，包括一层覆层试块和多层基层试块和通用槽型对比试块，覆层试块和基层试块由不同的材料组成，覆层试块设置在基层试块的上部，通过槽型对比试块可以根据射线检测的需要设置在覆层试块上部或者基层试块的上部和下部。本实用新型能用于检测复合材料的检测，并能够进一步确定处缺陷出现的位置。避免缺陷只出现在单侧结构即完全返修的情况，阻止了破坏复合层的结合面性能，避免浪费资源。

基本信息

专利标题：

一种用于检测复合材料的射线试块

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020958019.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-29

授权号：

CN212459468U

授权日：

2021-02-02

发明人：

丁菊袁奕雯刘书宏许金沙

申请人：

上海市特种设备监督检验技术研究院

申请人地址：

上海市普陀区金沙江路915号

代理机构：

上海申汇专利代理有限公司

代理人：

徐俊

优先权：

CN202020958019.8

主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/04